一举列子1.1前提设定ADC2bit量程 0~4V原生刻度0、1、2、3、4V一格 1V待测电压2.3V1.2不过采样正常单次采样每次只采 1 个数据 2.3V 离 2V 最近量化结果 2V 最大误差 0.3V1.34 倍过采样K41 次有效读数采 4 次短时间连续采 4 次因为电路微小噪声4 次读数会有微小浮动 采样 12V 采样 23V 采样 32V 采样 42V 求和23229 平均值 9÷42.25V1.4对比效果无过采样读出 2V误差 0.3V4 倍过采样平均读出 2.25V误差仅 0.05V 精度大幅提升。二能无脑开过采样吗2.1 采样速度大幅下降最核心短板假设你原本 1ms 出 1 个有效读数4 倍过采样要连续采 4 次再平均输出 1 个读数需要 4ms16 倍过采样单次有效输出要 16ms 过采样倍数越高数据刷新越慢。2.2会滤掉快速变化的信号过采样配套数字低通滤波相当于给信号加了 “惯性”慢速直流电池电压、温度无所谓快速波动信号按键抖动、脉冲、震动、音频人声一直高倍过采样会把真实快速变化平滑掉信号失真、响应迟钝。三过采样达到的bit数提升和真3bit 的ADC的性能一样吗2bit尺子一格1cm靠随机抖动多次测量平均把读数细分到0.25cm但尺子本身弯曲、刻度偏移的毛病没变≠出厂就是一格0.25cm的高精度尺子。
